Barnes P.N., Haugan T.J., Holtz R.L., Goswami R., Spanos G.
Ключевые слова: HTS, YBCO, REBCO, films, substrate single crystal, buffer layers, PLD process, critical caracteristics, Jc/B curves, critical current density, angular dependence, microstructure, fabrication, nanoscaled effects
Physica C, 2010, v.470, N 5-6, p.318-322
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.